Tamaño de cristalito, microdeformación de la red e identificación de segregado mediante ImageJ en el sistema semiconductor Cd0,67-yMn0,33yTe (0,05 <= y <= 0,15)

Manuel Villarreal, Jorge Pimentel, Agueda Turatti, Richard Sherdien, Juan Terán, Pedro Silva

Resumen


Se sintetizaron tres muestras del sistema semiconductor cuaternario Cd0,67-yMn0,33yTe (y = 0,05; 0,10; 0,15) mediante la técnica de fusión directa de sus elementos constituyentes. El tamaño medio de cristalito y la microdeformación de la red se determinaron a partir de análisis de difracción de rayos X, empleando el método de Williamson–Hall. Los resultados eviden-cian un adecuado crecimiento cristalino y una buena calidad estructural, observándose una disminución del tamaño medio de cristalito con el incremento de la concentración de Cr. Las micrografías fueron obtenidas mediante microscopía electró-nica de barrido en modo de electrones retrodispersados. La eficiencia de la segmentación automática se evaluó utilizando el plugin Trainable WEKA Segmentation (TWS) integrado en ImageJ, mediante la métrica de exactitud, compa-rando los resul-tados con las zonas de segregación identificadas en mapas elementales obtenidos por espectroscopía de dispersión de ener-gía. Los resultados muestran que el desempeño del método depende fuertemente de la topografía de la muestra, siendo más confiable en regiones planas y con buen contraste. Además, se presentan las proporciones segmentadas para cada muestra, lo que permite discutir las limitaciones y el potencial de la técnica en el análisis de materiales semicondutores complejos.

Recibido: 22 de abril de 2026
Aceptado: 30 de junio de 2026


Palabras clave


difracción de rayos X; método de Williamson-Hall; tamaño de cristalito; microdeformación de la red; seg-mentación automática; ImageJ; análisis de micrográfias

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DOI: https://doi.org/10.53766/CEI

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